Les tests de puces semi-conductrices ont des exigences extrêmement élevées en matière de précision de positionnement des étapes de traduction, et cette étape de traduction est un excellent outil adapté à cette tâche. Son plateau mesure 90×90 mm, ce qui le rend adapté aux petits copeaux ; il est équipé d'une fonction de réglage à double axe XY. Les guidages à rouleaux croisés permettent un glissement en douceur, tandis que le dispositif d'entraînement micrométrique permet un réglage précis des deux axes. Fabriqué en alliage d'aluminium, cet étage de traduction n'est pas susceptible de générer de l'électricité statique, et sa capacité de charge de 93,1 Newtons peut supporter la puce de manière stable, ce qui facilite l'inspection complète par l'équipement de test des performances de la puce et des problèmes de circuit.