Tête de micromètre à rouleaux croisés manuelle à axes XZ

L'inspection des semi-conducteurs impose des exigences strictes en matière de précision et de stabilité des équipements, et l'étage de levage manuel à axe XZ fonctionne parfaitement. Son étage de 125*125 mm est adapté au placement de puces semi-conductrices ; après traitement noir anodisé, le matériau en alliage d'aluminium présente d'excellentes performances anti-interférences, ce qui peut éviter d'affecter les résultats de l'inspection. Entraîné par un micromètre, il permet un réglage fin des axes X et Z, et sa capacité de charge de 147N peut supporter les puces de manière stable. À l'aide de cette étape, les inspecteurs peuvent ajuster avec précision la position des puces, coopérer avec les équipements d'inspection pour effectuer une inspection complète des performances des puces, détecter les problèmes en temps opportun et améliorer la qualité des produits semi-conducteurs.